Это методика тестирования, которая оценивает способность системы работать в будущем и обычно выполняется группами тестирования. По мере старения системы, насколько значительно может снизиться производительность, измеряется в тестировании возраста.
Давайте также поймем концепцию эпохи дефектов . Он измеряется двумя параметрами:
1. Phases 2. Time
Возраст дефекта — Фазы:
Возраст дефектов по фазам определяется как разница между фазой ввода дефекта и фазой обнаружения дефекта.
Параметры:
1. «фаза внедрения дефекта» — это фаза жизненного цикла разработки программного обеспечения, когда был обнаружен дефект.
2. «фаза обнаружения дефекта» — это фаза жизненного цикла разработки программного обеспечения, когда дефект был точно определен.
Формула:
Defect Age in Phase = Defect Detection Phase - Defect Injection Phase
Пример:
Учтите, что принятая нами методология SDLC имеет следующие этапы:
1. Разработка требований
2. Дизайн
3. Кодирование
4. Модульное тестирование
5. Интеграционное тестирование
6. Системное тестирование
7. Приемочное тестирование, и если в модульном тестировании (4) обнаружен дефект, и дефект был введен на этапе проектирования (2) разработки, то возраст дефекта составляет (4) — (2) = 2.
Возраст дефекта — время:
Возраст дефекта определяется как разница во времени между датой обнаружения дефекта и текущей датой, при условии, что дефект все еще считается открытым.
Параметры:
1. Дефекты находятся в состоянии «открыто» и «назначено», а НЕ просто в состоянии «новый».
2. Дефекты, которые находятся в «Закрыто» из-за «невоспроизводимых» или «дубликатов», НЕ рассматриваются.
3. Разница в днях или часах рассчитывается исходя из даты открытия дефекта и текущей даты.
Формула:
Defect Age in Time = Defect Fix Date (OR) Current Date - Defect Detection Date
Пример:
Если дефект был обнаружен 05.05.2013 в 11:30:00 и закрыт 23.05.2013 в 12:00:00, возраст дефекта будет рассчитываться следующим образом.
Defect Age in Days = 05/05/2013 11:30:00 AM - 23/05/2013 12:00:00 PM Defect Age in Days = 19 days
Результат:
Для оценки эффективности каждого этапа и любых проверок / тестирований, меньше возраст дефекта, лучше эффективность.